Базовый научно-образовательный центр «Физика и техника термоэлектрических явлений и композиционных материалов»

Основными направления работы:

- разработка новых материалов для термоэлектрических генераторов и охладителей: разработка объемных генераторных термоэлектри-

ческих материалов различного состава для работы в области низко и среднетемпературном диапазоне;

- создание перспективных наноструктурированных термоэлектрических материалов для термоэлектрических генераторов и охладителей;

- разработка коммутационных слоев для ветвей термоэлектрических генераторов.

- разработка термоэлектрических материалов p- и n-типа на основе теллурида висмута, а также коммутационных слоев для ветвей термоэлектрических генераторов, работающих в области низкотемпературного диапазона.

- установление основных закономерностей влияния типа и распределения примеси на кинетические явления в новых гетерогенных материалах и структурах на основе оксидов (CuO, ZnO,) и халькогенидов (PbTe) металлов, полученных по керамической технологии.

Модуль исследования коэффициента теплопроводности материалов Netzsch LFA 467 HyperFlash

Установка позволяет измерять теплопроводность, теплоемкость и температуропроводность материалов методом вспышки.

 Основные технические характеристики:

Температурный диапазон: от -100°C до 500°C

Точность поддержания температуры образца: ± 0,1 K

Диапазон температуропроводности: 0,01 - 2000 мм²/с

Диапазон теплопроводности:  0,1 - 4000 Вт/(м·К).

Источник излучения: ксеноновая лампа

Модуль исследования коэффициента термо-ЭДС и удельной электропроводности материалов Netzsch SBA 458

 Установка позволяет проводить измерения коэффициента термо-ЭДС и удельной электропроводности материалов в одном измерительном цикле.

 Основные технические характеристики:

Рабочий температурный диапазон: от -125°С до 1100°C

Диапазон измерений коэффициента Зеебека: 10 - 2000 мкВ/K

Диапазон измерений электропроводности: 0,05 - 150000 См/см

Лазерный анализатор размера частиц Photocor Compact-Z

 Прибор позволяет проводить измерения размера частиц, дзета-потенциала и молекулярной массы.

 Основные технические характеристики:

Измерение размеров частиц методом динамического рассеяние света под углами рассеяния: 20°, 90°.

Возможность измерения размеров частиц методом обратного рассеяния под углом рассеяния 160° (для измерения непрозрачных образцов).

Измерение электрофоретической подвижности и дзета-потенциала под углом рассеяния: 20°. Методы анализа: частотный (ELS); фазовый (PALS).

Диапазон измерения размеров частиц: от 0,5 нм до 10 мкм

Диапазон измерения дзета-потенциала: от -500 мВ до 500 мВ

Объем образца в режиме измерения размеров частиц: от 50 мкл до 4 мл (в режиме измерения дзета-потенциала: от 1 мл до 3 мл)

Установка измерения свойств полупроводников на основе эффекта Холла Ecopia HMS-5500

Установка позволяет проводить измерения объемной и поверхностной концентрации носителей заряда, подвижности, коэффициента Холла, удельного сопротивления, проводимости, магнитосопротивления полупроводников.

Основные технические характеристики:

Температурный диапазон: 77 - 773 К.

Диапазон измерений концентрации носителей заряда: 10⁷-10²¹ см^-3.

Диапазон измерения подвижности: 1-10⁷ см²/В∙с.

Диапазон измерения удельного сопротивления: 10^-4-10 ⁷ Ом∙см.

/upload Используемый магнит: постоянный магнит с индукцией 0,55 Т

Сканирующий электронный микроскоп с большой камерой в высоковакуумном исполнении, предназначен для широкого круга задач, в которых исследуются образцы, проводящие электрический ток, либо непроводящие с нанесенным на них токопроводящим покрытием. 
Основные технические характеристики:
– автоэмиссионный катод Шоттки высокой яркости для получения изображений высокого разрешения, высокой контрастности, с низким уровнем шумов.
– пространственное разрешение микроскопа 1,2 нм;
– ток пучка электронов в диапазоне от 2 пА до 200 нА;
– ускоряющее напряжение в диапазоне от 200 В до 30 кВ;
– аналитическая большая камера образцов с размерами: 230 мм (диаметр) х 148 мм (ширина двери);
– максимальная высота образца: до 60 мм;
– диапазон увеличений без искажений поля зрения: от 2× до 1 000 000×;
– минимальная скорость сканирования 20 нс/пиксель, максимальная скорость сканирования 10 мс/пиксель.

Сотрудники центра:

Иванов Александр Сергеевич, директор БНОЦ

Гребенников Антон Александрович, к.ф.-м.н., заведующий лабораторией

Бочаров Алексей Игоревич, ведущий инженер

Толстых Никита Александрович, к.ф.-м.н., ведущий инженер